Direksyon solidifikasyon mono tankou wafer solèse youn nan pwomèt materyèl yo wafer altènatif konpare ak wafer Silisyòm monokristalin ak milti-kristalin wafer Silisyòm akòz efikasite relativman pi wo konvèsyon li yo ak pri pwodiksyon pi ba yo. Men, toujou gen yon gwo chanm pou amelyore kalite kristal la epi redwi pri fabrikasyon an, sa ki ka pouse gato yo nan endistri fotovoltaik pratikman.
1 Pwopriyete materyèl
Pwopriyete | Espesifikasyon | Metòd enspeksyon |
Metòd kwasans | solidifikasyon direksyon | XRD |
Kristalinite | Monokristalin | Teknik etch preferansyèl（ASTM F47-88） |
Kalite konduktivite | P-kalite | Napson EC-80TPN P/N |
Dopant | Bor ium Gallium | - |
Oksijèn konsantrasyon [Oi] | ≦1E+17 nan / cm3 | FTIR (ASTM F121-83) |
Konsantrasyon kabòn [CS] | ≦1E+18 nan / cm3 | FTIR (ASTM F123-91) |
2 Pwopriyete elektrik
Pwopriyete | Espesifikasyon | Metòd enspeksyon |
Rezistivite | 0.5-2 Ωcm (Apre anneal) | Wafer enspeksyon sistèm lan |
MCLT (minè konpayi asirans pou tout lavi) | ≧10 μs | Sinton QSSPC |
3 Jewometri
Pwopriyete | Espesifikasyon | Metòd enspeksyon |
Jewometri | Kare oswa Rektang | Wafer enspeksyon sistèm lan |
Figi kwen bizote | Liy | Wafer enspeksyon sistèm lan |
Gwosè Wafer (Side longè * longè bò) | 156mm * 156mm 157mm * 186mm 166mm * 166mm | Wafer enspeksyon sistèm lan |
Ang ant kote adjasan yo | 90±3° | Wafer enspeksyon sistèm lan |
Baj popilè: p kalite direksyon solidifikasyon mono tankou wafer solè ki gen ladan 166mm * 166mm, Lachin, Swèd, manifaktirè, faktori, te fè nan peyi Lachin
