158.75mm Full Square Monocrystalline Solar Wafer 2

P type monocrystalline wafer 1

P type monocrystalline wafer 2

210mx210mm M12 monocrystalline silikon ge sole ak dyamet nan 295mm se 80.5 pi gwo pase M2 wafer.

1 Pwopriyete materyel

Pwopriyete	Spesifikasyon	Metod enspeksyon
Metod kwasans	kriz
Kristalinite	Monocrystalline	Teknik preferansyel etch（ASTM F47-88）
Kalite konduktivite	P-kalite	Napson EC-80TPN P / N
Dopant	Boron, Galyom	-
konsantrasyon oksijen [Oi]	≦8E + 17 nan / cm³	FTIR (ASTM F121-83)
Konsantrasyon kabon [CS]	≦5E + 16 nan / cm³	FTIR (ASTM F123-91)
Etch dansite pit (dansite divilgasyon)	≦500 cm^-3	Teknik preferansyel etch（ASTM F47-88）
Oryantasyon sifas	<100>±3°	X-ray Diffraction Metod (ASTM F26-1987)
Oryantasyon nan kote pseudo kare	<010>,<001>±3°	X-ray Diffraction Metod (ASTM F26-1987)

2 Pwopriyete elektrik yo

Pwopriyete

Spesifikasyon

Metod enspeksyon

Rezistivite

0.5-1.5 Ωcm

Wafer enspeksyon sistem

MCLT (minorite asirans lavi)

≧50 μs

Sinton BCT-400

(ak nivo piki: 1E15 cm^-3)

3 Jeometri

210mmx210mm M12 monocrystalline silicon solar wafer

4 Pwopriyete sifas yo

Pwopriyete	Spesifikasyon	Metod enspeksyon
Koupe metod	TRASE	--
Bon jan kalite sifas	kom koupe ak netwaye, pa gen okenn kontaminasyon vizib, (lwil oliv oswa gres, enprimant dwet, tach savon, tach sispann, tach epoksidik / lakol yo pa pemet)	sistem enspeksyon vag
Te we mak / etap	≤ 15μm	sistem enspeksyon vag
Bow	≤ 40 μm	sistem enspeksyon vag
gep	≤ 40 μm	sistem enspeksyon vag
Chip	pwofonde ≤0.3mm ak longe ≤ 0.5mm Max 2 / pcs; pa gen okenn V-chip	Je toutouni oswa sistem enspeksyon waf
Mikwo frakti / tou	Pa pemet	sistem enspeksyon vag

Baj popilè: p kalite 210mm monocrystalline ge sole, Lachin, founise, manifaktire, faktori, te fe nan Lachin

P Kalite 210mm Monocrystalline Sole Wafer