P Kalite M10 monokristalin Wafer solè

P Kalite M10 monokristalin Wafer solè
Pwodwi Entwodiksyon:
M10 ak dimansyon nan 182mmx182mm monokristalin Silisyòm wafer solè ak dyamèt 247mm ka fè pi wo pouvwa selil solè.
Voye rechèch
Chat kounye a
Dekri teren
Karakteristik teknik


158.75mm Full Square Monocrystalline Solar Wafer 2


P type monocrystalline wafer 1


P type monocrystalline wafer 2


210mmx210mm M12 monokristalin Silisyòm wafer solè ak dyamèt 295mm se 80.5% pi gwo pase M2 wafer.


1 Pwopriyete materyèl

Pwopriyete

Espesifikasyon

Metòd enspeksyon

Metòd kwasans

CZ


Kristalinite

Monokristalin

Teknik etch preferansyèlASTM F47-88

Kalite konduktivite

P-kalite

Napson EC-80TPN

P/N

Dopant

Bor, Gallium

-

Oksijèn konsantrasyon [Oi]

≦8E+17 nan / cm3

FTIR (ASTM F121-83)

Konsantrasyon kabòn [CS]

5E+16 nan / cm3

FTIR (ASTM F123-91)

Etch dansite twou san fon (dansite debwatman)

500 cm-3

Teknik etch preferansyèlASTM F47-88

Oryantasyon andigman

& lt; 100> ± 3 °

X-ray Diffraction Metòd (ASTM F26-1987)

Oryantasyon nan pseudo kote kare

& lt; 010> ;,< 001=""> ± 3 °

X-ray Diffraction Metòd (ASTM F26-1987)

2 Pwopriyete elektrik

Pwopriyete

Espesifikasyon

Metòd enspeksyon

Rezistivite

0.5-1.5 Ωcm

Wafer enspeksyon sistèm lan

MCLT (minè konpayi asirans pou tout lavi)

50 μs

Sinton BCT-400

(ak nivo piki: 1E15 cm-3)

3Jewometri

Pwopriyete

Espesifikasyon

Metòd enspeksyon

Jewometri

Plen kare


Wafer Side longè

182 ± 0.25 mm

sistèm enspeksyon wafer

Dyamèt Wafer

φ247 ± 0.25 mm

sistèm enspeksyon wafer

Ang ant kote adjasan yo

90° ± 0.2°

sistèm enspeksyon wafer

Epesè

18020/10 µm;

17020/10 µm

sistèm enspeksyon wafer

TTV (varyasyon epesè total)

27 µm

sistèm enspeksyon wafer


image

4 Pwopriyete andigman

Pwopriyete

Espesifikasyon

Metòd enspeksyon

Koupe metòd

DW

--

Bon jan kalite andigman

kòm koupe ak netwaye, pa gen okenn kontaminasyon vizib, (lwil oliv oswa grès, anprent dwèt, tach savon, tach sispansyon, tach epoksidik / lakòl yo pa gen dwa)

sistèm enspeksyon wafer

Wè mak / etap

≤ 15µm

sistèm enspeksyon wafer

Bow

≤ 40 µm

sistèm enspeksyon wafer

Chèn

≤ 40 µm

sistèm enspeksyon wafer

Chip

pwofondè ≤0.3mm ak longè ≤ 0.5mm Max 2 / pcs; pa gen V-chip

Je toutouni oswa sistèm enspeksyon wafer

Mikwo fant / twou

Pa pèmèt

sistèm enspeksyon wafer




 

Baj popilè: p kalite m10 monokristalin solè wafer, Lachin, Swèd, manifaktirè, faktori, te fè nan peyi Lachin

Voye rechèch
Ki jan yo rezoud pwoblèm yo bon jan kalite apre lavant?
Pran foto pwoblèm yo epi voye nou.Apre konfime pwoblèm yo, nou
pral fè yon solisyon satisfè pou ou nan kèk jou.
kontakte nou