P Kalite M6 Monocrystalline Sole Wafer

P Kalite M6 Monocrystalline Sole Wafer
Pwodwi Entwodiksyon:
P kalite M6 monocrystalline silikon ge sole ak dyamet nan 223mm se 12.21 pi gwo pase M2 wafer.
Voye rechèch
Chat kounye a
Dekri teren
Karakteristik teknik


M6 solar wafer 2


P type monocrystalline wafer 1


P type monocrystalline wafer 2


P kalite M6 monocrystalline silikon ge sole ak longe 166mm ak dyamet nan 223mm se 12.21 pi gwo pase M2 wafer. sa vle di ke selil sole te fe nan M6 substrate pral gen 12.21 pi wo pwodiksyon pouvwa pase sa ki te fe nan M2 substrate.


1      Pwopriyete materyel

 

Pwopriyete

Spesifikasyon

Metod enspeksyon

Metod kwasans

kriz


Kristalinite

Monocrystalline

 

Teknik preferansyel etchASTM F47-88

Kalite konduktivite

P-kalite

Napson EC-80TPN

P / N

Dopant

 

Boron, Galyom

 

-

konsantrasyon oksijen [Oi]

≦8E + 17 nan / cm3

FTIR (ASTM F121-83)

Konsantrasyon kabon [CS]

5E + 16 nan / cm3

FTIR (ASTM F123-91)

Etch dansite pit (dansite divilgasyon)

500 cm-3

Teknik preferansyel etchASTM F47-88

Oryantasyon sifas

<100>±3°

X-ray Diffraction Metod (ASTM F26-1987)

Oryantasyon nan kote pseudo kare

<010>,<001>±3°

X-ray Diffraction Metod (ASTM F26-1987)

 

2      Pwopriyete elektrik yo

 

Pwopriyete

Spesifikasyon

Metod enspeksyon

Rezistivite

0.5-1.5 Ωcm

Wafer enspeksyon sistem

MCLT (minorite asirans lavi)

50 μs

Sinton BCT-400

(ak nivo piki: 1E15 cm-3)

 

3      Jeometri

 

Pwopriyete

Spesifikasyon

Metod enspeksyon

Jeometri

Kare konple


Longe bo waf

166±0.25 mm

sistem enspeksyon vag

Dyamet waf

φ223±0.25 mm

sistem enspeksyon vag

Ang ant kote adjasan yo

90° ± 0.2°

sistem enspeksyon vag

epese

18020/10 μm;

17020/10 μm

sistem enspeksyon vag

TTV (Total epese varyasyon)

27 μm

sistem enspeksyon vag


 166mmx166mm M6 solar wafer

 

 

4      Pwopriyete sifas yo

 

Pwopriyete

Spesifikasyon

Metod enspeksyon

Koupe metod

TRASE

--

Bon jan kalite sifas

kom koupe ak netwaye, pa gen okenn kontaminasyon vizib, (lwil oliv oswa gres, enprimant dwet, tach savon, tach sispann, tach epoksidik / lakol yo pa pemet)

sistem enspeksyon vag

Te we mak / etap

≤ 15μm

sistem enspeksyon vag

Bow

≤ 40 μm

sistem enspeksyon vag

gep

≤ 40 μm

sistem enspeksyon vag

Chip

pwofonde ≤0.3mm ak longe ≤ 0.5mm Max 2 / pcs;   pa gen okenn V-chip

Je toutouni oswa sistem enspeksyon waf

Mikwo frakti / tou

Pa pemet

sistem enspeksyon vag




 

Baj popilè: p kalite m6 monocrystalline ge sole, Lachin, founise, manifaktire, faktori, te fe nan Lachin

Voye rechèch
Ki jan yo rezoud pwoblèm yo bon jan kalite apre lavant?
Pran foto pwoblèm yo epi voye nou.Apre konfime pwoblèm yo, nou
pral fè yon solisyon satisfè pou ou nan kèk jou.
kontakte nou