P Kalite M12 Monocrystalline Sole Wafer

P Kalite M12 Monocrystalline Sole Wafer

nan 2019, M12 (210mm x 210mm) p-Kalite mono waf (295mm dyamet dyamet silikon) te riche. Nan 6 " foma M2 (156.75mm x 156.75mm) te espere yo dwe mete pa M12 ak M6.
Share to
Voye rechèch
Chat kounye a
Dekri teren
Karakteristik teknik


158.75mm Full Square Monocrystalline Solar Wafer 2


P type monocrystalline wafer 1


P type monocrystalline wafer 2


nan 2019, M12 (210mm x 210mm) p-Kalite mono waf (295mm dyamet dyamet silikon) te riche. Nan 6 " foma M2 (156.75mm x 156.75mm) espere yo dwe mete pa M12 ak M6.


1      Pwopriyete materyel

 

Pwopriyete

Spesifikasyon

Metod enspeksyon

Metod kwasans

kriz


Kristalinite

Monocrystalline

 

Teknik preferansyel etchASTM F47-88

Kalite konduktivite

P-kalite

Napson EC-80TPN

P / N

Dopant

 

Boron, Galyom

 

-

konsantrasyon oksijen [Oi]

≦8E + 17 nan / cm3

FTIR (ASTM F121-83)

Konsantrasyon kabon [CS]

5E + 16 nan / cm3

FTIR (ASTM F123-91)

Etch dansite pit (dansite divilgasyon)

500 cm-3

Teknik preferansyel etchASTM F47-88

Oryantasyon sifas

<100>±3°

X-ray Diffraction Metod (ASTM F26-1987)

Oryantasyon nan kote pseudo kare

<010>,<001>±3°

X-ray Diffraction Metod (ASTM F26-1987)

 

2      Pwopriyete elektrik yo

 

Pwopriyete

Spesifikasyon

Metod enspeksyon

Rezistivite

0.5-1.5 Ωcm

Wafer enspeksyon sistem

MCLT (minorite asirans lavi)

50 μs

Sinton BCT-400

(ak nivo piki: 1E15 cm-3)

 

3      Jeometri

 

Pwopriyete

Spesifikasyon

Metod enspeksyon

Jeometri

Kare konple


Longe bo waf

210±0.25 mm

sistem enspeksyon vag

Dyamet waf

φ295±0.25 mm

sistem enspeksyon vag

Ang ant kote adjasan yo

90° ± 0.2°

sistem enspeksyon vag

epese

18020/10 μm;

17020/10 μm

sistem enspeksyon vag

TTV (Total epese varyasyon)

27 μm

sistem enspeksyon vag


 210mmx210mm M12 monocrystalline silicon solar wafer

 

 

4      Pwopriyete sifas yo

 

Pwopriyete

Spesifikasyon

Metod enspeksyon

Koupe metod

TRASE

--

Bon jan kalite sifas

kom koupe ak netwaye, pa gen okenn kontaminasyon vizib, (lwil oliv oswa gres, enprimant dwet, tach savon, tach sispann, tach epoksidik / lakol yo pa pemet)

sistem enspeksyon vag

Te we mak / etap

≤ 15μm

sistem enspeksyon vag

Bow

≤ 40 μm

sistem enspeksyon vag

gep

≤ 40 μm

sistem enspeksyon vag

Chip

pwofonde ≤0.3mm ak longe ≤ 0.5mm Max 2 / pcs;   pa gen okenn V-chip

Je toutouni oswa sistem enspeksyon waf

Mikwo frakti / tou

Pa pemet

sistem enspeksyon vag




Baj popilè: p kalite m12 monocrystalline ge sole, Lachin, founise, manifaktire, faktori, te fe nan Lachin

Voye rechèch
Voye rechèch